详细摘要： RTS-9型双电测四探针锂电极片电阻测试仪是一款可以测量锂电池极片电阻率的仪器。采用了四探针双电测组合（亦称双位组合）测量新技术利用电流探针、电压探针的变换，在...

详细摘要： RTS-8四探针电阻率测试仪器是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的，于测试半导...

详细摘要： FT/HP系列四探针测试仪探头采用综合性能优异的航空工程塑料、机械结构优良弹huang片、耐磨和硬度高的探针研制的测量数据稳定、可靠、准确度高、耐用性能好四探针...

详细摘要： 手动电动四探针测试仪测试台S-2A型四探针测试台专为实验室使用而制作的。该测试台设计别致、操作简易、重量轻、并有微调手轮，便于探针与样品的精确接触。载物台：方盘...

详细摘要： RTS-4/5/8/9四探针薄膜电阻率测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计...

详细摘要： SB100A/21A四探针金属/半导体电阻率测量仪是SB100A/21（及SB100A/3）的升级版，其为用户提供了使用SB100A/3进行四探针测试及实验的配...

详细摘要： SB100A/20A四探针金属/半导体电阻率测量仪是SB100A/20（及SB100A/2）的升级版，其为用户提供了使用SB100A/20进行四探针测试及实验的...

详细摘要： CV-5000型电容电压特性测试仪在集成电路特别是MOS电路的生产和开发研制中，MOS电容的C-V测试是极为重要的工艺过程监控测试手段，通过C-V测试达到优化生...

详细摘要： CV-2000型电容电压特性测试仪作为组成半导体器件的基本结构的PN结具有电容效应（势垒电容）。加正向偏压时，PN结势垒区变窄，势垒电容变大；加反向偏压时，PN...

详细摘要： LT-2型单晶少子寿命测试仪是参考美国 A.S.T.M 标准而设计的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命。半导体材料的少数载流子寿命测量，是半导体的常规测试项目...

详细摘要： PN-12型导电类型鉴别仪采用整流法（也称三探针法）和温差法（也称冷热探笔法来判断单晶（或多晶）硅的导电类型（N型或P型），用N型和P型显示屏直接显示单晶（或多...

详细摘要： PN-30型导电类型鉴别仪采用整流法（也称三探针法）和温差法（也称冷热探笔法来判断单晶（或多晶）硅的导电类型（N型或P型），用N型和P型显示屏直接显示单晶（或多...

详细摘要： RTS-1345型全自动四探针测试系统可对样品进行单点、五点、九点、多点、直径扫描、面扫描等模式的全自动测试；屏蔽测试，*消除光线对样品测试的影响，保证测量的准...

详细摘要： ST-21L型方块电阻测试仪采用大规模集成电路作为仪器的主要部分，测量准确稳定，低功耗；以大屏幕LCD显示读数，直观清晰；采用单个电池供电，带电池欠压指示；体积...

详细摘要： ST-21H型方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准，专门测量半导体薄层电阻（表面电阻）的新型仪器，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜（...

详细摘要： ST-21型方块电阻测试仪以大规模集成电路为主要核心；用基准电源和运算放大器组成高精度稳流源；带回路有效正常指示电路；并配以大型LCD显示读数，使仪器具有体积小...

详细摘要： RTS-3型手持式四探针测试仪测量范围宽、精度高、稳定性好、结构紧凑、易操作的手持式设计；体积仅为：185mm（长）*90mm（宽）*30mm（高）； 重量：3...

详细摘要： RTS-2/RTS-2A型便携式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计...

详细摘要： RTS-11型金属四探针测试仪于测试低阻金属材料电阻率及方块电阻测量范围：电阻率：10-7～10-2Ω.cm； 方块电阻：10-6～10-1Ω/□；是运用四探针...

详细摘要： RTS-5型双电测四探针测试仪测试程序控制四探针测试仪进行测量并采集测试数据，把采集到的数据在计算机中加以分析，然后把测试数据以表格，图形直观地记录、显示出来。...